BIA艁E KSI臉GI &

Artyku艂y techniczne

Lepsze zrozumienie lutowania niskotemperaturowego w obr贸bce i monta偶u elektroniki

Niniejszy artyku艂 zawiera kompleksow膮 analiz臋 lutu LT, w szczeg贸lno艣ci koncentruj膮c si臋 na jego zastosowaniu w procesach przer贸bek i szerszych implikacjach dla produkcji elektroniki.

ABSTRAKT  

Poniewa偶 przemys艂 elektroniczny nieustannie d膮偶y do innowacji i wydajno艣ci w procesach monta偶u i przer贸bek, eksploracja niskotemperaturowych (LT) stop贸w lutowniczych zyska艂a znaczn膮 uwag臋. Niniejszy artyku艂 zawiera kompleksow膮 analiz臋 lut贸w LT, w szczeg贸lno艣ci koncentruj膮c si臋 na ich zastosowaniu w procesach przer贸bek i szerszych implikacjach dla produkcji elektroniki. Zag艂臋biamy si臋 w r贸偶ne aspekty lut贸w LT, badaj膮c zar贸wno potencjalne korzy艣ci, jak i wyzwania zwi膮zane z ich zastosowaniem.

W badaniu dokonano przegl膮du wcze艣niejszych prac nad lutem LT w przer贸bkach, oferuj膮c szczeg贸艂owe podsumowanie i sugeruj膮c ostro偶ne podej艣cie ze wzgl臋du na zwi臋kszone koszty i z艂o偶ono艣膰 zwi膮zan膮 z drutem lutowniczym zawieraj膮cym bizmut, a tak偶e brak znacz膮cych r贸偶nic w wytrzyma艂o艣ci i niezawodno艣ci po艂膮cze艅 w por贸wnaniu z tradycyjnymi metodami. Dodatkowo, artyku艂 odnosi si臋 do szerszych rozwa偶a艅 na temat lutu LT, w tym korzy艣ci i wad, kompromis贸w w zakresie wydajno艣ci oraz obszar贸w wymagaj膮cych dalszych bada艅. 

Badania nad lutem LT zosta艂y dodatkowo wzbogacone o nowe dane dotycz膮ce czyszczenia pozosta艂o艣ci tlenku bizmutu oraz wp艂ywu temperatury grota i czasu kontaktu na tworzenie IMC podczas przer贸bki. Zapewniaj膮c dok艂adny przegl膮d istniej膮cych bada艅 i nowych ustale艅, niniejszy artyku艂 ma na celu zaoferowanie cennych spostrze偶e艅 producentom, in偶ynierom i badaczom, przyczyniaj膮c si臋 do 艣wiadomych decyzji dotycz膮cych przyj臋cia i integracji lutu LT w przer贸bce i monta偶u elektroniki. 

WPROWADZENIE  

W erze, w kt贸rej innowacyjno艣膰 i wydajno艣膰 sta艂y si臋 najwa偶niejsze, bran偶a produkcji elektroniki nieustannie poszukuje sposob贸w na usprawnienie proces贸w, obni偶enie koszt贸w i zwi臋kszenie niezawodno艣ci produkt贸w. W艣r贸d r贸偶nych badanych rozwi膮za艅, lutowanie niskotemperaturowe (LT) pojawi艂o si臋 jako obiecuj膮ca alternatywa dla tradycyjnych metod lutowania, zw艂aszcza przy rozprzestrzenianiu si臋 skomplikowanej, zminiaturyzowanej elektroniki.

Historycznie, stosowanie lut贸w LT by艂o motywowane ich unikalnymi w艂a艣ciwo艣ciami, takimi jak obni偶ona temperatura topnienia oraz potencja艂 oszcz臋dno艣ci energii i materia艂贸w.[1] Jednak, podobnie jak w przypadku ka偶dej znacz膮cej zmiany w metodologii, wdro偶enie lutowania LT przynios艂o szereg wyzwa艅. Wyzwania te, od niezawodno艣ci, przez obawy zwi膮zane z przer贸bkami, po zarz膮dzanie pozosta艂o艣ciami, wymagaj膮 g艂臋bszego zbadania i zrozumienia.

Niniejszy artyku艂 zag艂臋bia si臋 w zawi艂o艣ci lutowania LT, szczeg贸lnie w dziedzinie przer贸bek i monta偶u elektroniki. Poprzez rygorystyczne badanie oraz po艂膮czenie danych eksperymentalnych i spostrze偶e艅 bran偶owych, staramy si臋 rzuci膰 艣wiat艂o na prawdziwy potencja艂, korzy艣ci i rozwa偶ania dotycz膮ce stosowania lutu LT we wsp贸艂czesnej produkcji elektroniki. 

T艁O 

Informacje o kluczowych cechach i kwestiach zwi膮zanych z lutowaniem LT s膮 cz臋sto rozbie偶ne, a zar贸wno trwaj膮ce, jak i istniej膮ce badania s膮 pogr膮偶one w r贸偶nicach metodologicznych, uwik艂aniu w dzia艂ania marketingowe i braku metaanalitycznych wniosk贸w wystarczaj膮co solidnych, aby zapewni膰 producentom bezpo艣rednie i praktyczne spostrze偶enia. Niniejszy dokument ma na celu rozpocz臋cie procesu 艂膮czenia istniej膮cych informacji w sp贸jny obraz, identyfikuj膮c zar贸wno korzy艣ci, jak i wyzwania zwi膮zane z lutowaniem LT w r贸偶nych wymiarach, jednocze艣nie jasno okre艣laj膮c pozosta艂e pytania i obszary bada艅, a tak偶e ujednolicone wnioski z istniej膮cych prac.

Stopy niskotemperaturowe

Luty LT charakteryzuj膮 si臋 unikalnym sk艂adem metali, obejmuj膮cym g艂贸wnie cyn臋 (Sn) i bizmut (Bi). W przesz艂o艣ci obecno艣膰 o艂owiu (Pb) w stopach lutowniczych by艂a powszechna, ale wraz z przej艣ciem na procesy bezo艂owiowe, bizmut sta艂 si臋 bardziej op艂acalnym sk艂adnikiem.[2] Znaczenie cyny i bizmutu w tych stopach oznacza znacz膮c膮 zmian臋 w technologii lutowania. Bizmut, wcze艣niej pomijany ze wzgl臋du na jego niekompatybilno艣膰 z procesami opartymi na Pb, jest obecnie integraln膮 cz臋艣ci膮 lut贸w LT, zw艂aszcza 偶e wi臋kszo艣膰 proces贸w lutowania przesz艂a na wolne od Pb. To przej艣cie pobudzi艂o rozw贸j nowych generacji lut贸w LT. Podczas gdy pojawia si臋 coraz wi臋cej r贸偶nych kompozycji lutowniczych LT, niniejszy artyku艂 skupi si臋 przede wszystkim na eutektycznej cynie-bizmucie i cynie-bizmucie z niewielkim dodatkiem srebra (Ag), poniewa偶 te kompozycje stanowi膮 znaczn膮 cz臋艣膰 obecnych zastosowa艅 lutowniczych LT.

Podstawowe zalety i wady lutowania LT

Podstawow膮 zalet膮 lut贸w LT jest ni偶sza temperatura topnienia w por贸wnaniu do tradycyjnych lut贸w. Ta cecha prowadzi do kilku korzy艣ci. Pierwsz膮 z nich jest mniejsze zu偶ycie energii. Ni偶sza temperatura topnienia pozwala na oszcz臋dno艣膰 energii podczas procesu lutowania, poniewa偶 wymagana jest mniejsza ilo艣膰 ciep艂a. W rzeczywisto艣ci niekt贸re badania wykaza艂y potencjalne oszcz臋dno艣ci energii do 20-40% przy u偶yciu niskotemperaturowych profili rozp艂ywowych w por贸wnaniu do tradycyjnych SAC305.[3]

Kolejn膮 zalet膮 jest zmniejszone wypaczanie komponent贸w. Ni偶sze temperatury zmniejszaj膮 ryzyko wypaczenia wra偶liwych komponent贸w podczas lutowania, zwi臋kszaj膮c tym samym integralno艣膰 produktu.

Korzy艣ci te s膮 jednak r贸wnowa偶one przez pewne wady. W szczeg贸lno艣ci bizmut, cho膰 korzystny ze wzgl臋du na obni偶enie temperatury topnienia, wprowadza krucho艣膰 do po艂膮cze艅 lutowanych. Mo偶e to wp艂ywa膰 na niezawodno艣膰 i trwa艂o艣膰 po艂膮cze艅 lutowanych, zw艂aszcza w 艣rodowiskach, w kt贸rych wyst臋puj膮 napr臋偶enia mechaniczne.
Kolejna wada zwi膮zana jest z wra偶liwo艣ci膮 na temperatur臋. Podczas gdy ni偶sze temperatury s膮 korzystne dla oszcz臋dno艣ci energii i zmniejszenia wypaczenia, wymagaj膮 one r贸wnie偶 starannej kontroli i kalibracji podczas procesu lutowania, aby zapewni膰 integralno艣膰 po艂膮czenia.

Pojawiaj膮 si臋 r贸wnie偶 pytania zwi膮zane z tworzeniem po艂膮cze艅 hybrydowych (cz臋sto SAC+LT) w r贸偶nych scenariuszach oraz charakterystyk膮 i trybami awarii takich po艂膮cze艅.[4] Jest to co艣, co wcze艣niej badali艣my w przypadku przer贸bek przy u偶yciu lutu niskotemperaturowego. Zmiany w procesie to kolejny obszar bada艅, taki jak dostosowywanie szybko艣ci ramp i u偶ywanie piec贸w rozp艂ywowych ze strefami ch艂odzenia. [5][6]

Lutowanie w niskiej temperaturze

Jednym z pyta艅 zadawanych przez wielu producent贸w podczas wdra偶ania proces贸w lutowania w niskich temperaturach jest to, czy mog膮 lub powinni oni r贸wnie偶 u偶ywa膰 lutu niskotemperaturowego do wszelkich przer贸bek wykonywanych na komponentach, kt贸re zosta艂y przylutowane lutem LT. Pytanie to jest dwojakie - po pierwsze, czy lut LT w procesie wymaga lutu LT w przer贸bce, aby zachowa膰 integralno艣膰 po艂膮czenia, a po drugie, czy u偶ycie lutu LT w przer贸bce przynosi dodatkowe korzy艣ci i oszcz臋dno艣ci, podobnie jak w przypadku lutu LT stosowanego w lutowaniu rozp艂ywowym i na fali. 

Dyskusja ma na celu zapewnienie kompleksowego zrozumienia roli lutu LT w przer贸bkach, podkre艣laj膮c kluczowe kwestie dla producent贸w rozwa偶aj膮cych jego przyj臋cie w swoich protoko艂ach napraw i konserwacji. 

Podsumowanie poprzedniego badania

Pierwotne badanie dotyczy艂o mo偶liwo艣ci zastosowania stop贸w LT w scenariuszach przer贸bek.[7] Zaobserwowano, 偶e do obr贸bki stop贸w LT mo偶na z powodzeniem stosowa膰 drut sta艂y o niskiej temperaturze topnienia i topnik zewn臋trzny, a tak偶e drut lutowniczy SAC305 z rdzeniem topnikowym. Luty LT wykazywa艂y r贸偶ne charakterystyki przetwarzania w por贸wnaniu do lut贸w SAC, ale nie utrudnia艂y one tworzenia wysokiej jako艣ci po艂膮cze艅 lutowanych.

Co najwa偶niejsze, po艂膮czenia lutowane wykonane lutem LT spe艂nia艂y kryteria IPC klasy 1, 2, 3, co sugeruje, 偶e lut LT jest realn膮 opcj膮 dla szeregu klas produkt贸w. Wyniki test贸w 艣cinania by艂y jednak zmienne, odzwierciedlaj膮c nieod艂膮czne wyzwania zwi膮zane z procesami przer贸bek. Po艂膮czenia lutowane SAC wykaza艂y wi臋ksz膮 plastyczno艣膰 w por贸wnaniu do ich odpowiednik贸w z bizmutem, co jest zgodne ze znanymi w艂a艣ciwo艣ciami materia艂owymi tych stop贸w. Gdy u偶yto drutu lutowniczego z rdzeniem topnikowym SAC305, proces przypomina艂 tradycyjne metody przer贸bki SAC/SAC, z naciskiem na wykorzystanie drobniejszych 艣rednic drutu dla mniejszych komponent贸w.

Badanie podkre艣li艂o znaczenie umiej臋tno艣ci operatora, podkre艣laj膮c potrzeb臋 odpowiedniego szkolenia przy wdra偶aniu przer贸bek LT. Jest to szczeg贸lnie istotne, bior膮c pod uwag臋 zmienny charakter wynik贸w przer贸bek, nawet pod okiem bardzo do艣wiadczonego operatora.

Nierozwi膮zane pytania z badania wst臋pnego

Kilka kwestii pozosta艂o nierozstrzygni臋tych, co wymaga dalszych bada艅. Jedn膮 z kluczowych nierozwi膮zanych kwestii jest mo偶liwo艣膰 oczyszczenia pozosta艂o艣ci tlenku bizmutu po przep艂ywie i ponownej obr贸bce. Aspekt ten ma kluczowe znaczenie dla zapewnienia d艂ugoterminowej niezawodno艣ci i wydajno艣ci po艂膮cze艅 lutowanych.

Oryginalne badanie wykaza艂o r贸wnie偶, 偶e zmienne w technikach lutowania r臋cznego, w szczeg贸lno艣ci temperatura grota i czas kontaktu, znacz膮co wp艂ywaj膮 na tworzenie si臋 zwi膮zk贸w mi臋dzymetalicznych (IMC). Zrozumienie tych zmiennych jest niezb臋dne do optymalizacji proces贸w przer贸bek i zapewnienia integralno艣ci po艂膮cze艅 lutowanych.

Te nierozstrzygni臋te kwestie zosta艂y zbadane w spos贸b opisany w kolejnych dw贸ch sekcjach. 


Czysto艣膰 pozosta艂o艣ci tlenku bizmutu 

Jedn膮 z g艂贸wnych obaw zwi膮zanych ze stosowaniem lut贸w LT jest mo偶liwo艣膰 pozostania pozosta艂o艣ci tlenku bizmutu po procesach ponownego rozp艂ywu i przer贸bki. Obecno艣膰 tego osadu mo偶e wp艂ywa膰 na jako艣膰 i niezawodno艣膰 po艂膮czenia lutowanego, cho膰 jest on uwa偶any g艂贸wnie za element kosmetyczny. We wsp贸艂pracy z MicroCare przeprowadzono badanie w celu ustalenia, czy pozosta艂o艣ci te mo偶na usun膮膰 i kt贸ry 艣rodek czyszcz膮cy jest najlepszy.

Cel eksperymentu

Badanie mia艂o na celu ocen臋 skuteczno艣ci r贸偶nych chemikali贸w czyszcz膮cych w usuwaniu pozosta艂o艣ci z po艂膮cze艅 lutowniczych utworzonych przy u偶yciu lutowia niskotemperaturowego (LT). Badanie to koncentrowa艂o si臋 w szczeg贸lno艣ci na ocenie zdolno艣ci r贸偶nych 艣rodk贸w czyszcz膮cych do czyszczenia pozosta艂o艣ci tlenku bizmutu powsta艂ych w wyniku proces贸w lutowania LT.

U偶yte materia艂y

W tym badaniu zastosowano r贸偶ne materia艂y lutownicze. Wyb贸r obejmowa艂 past臋 AIM M8 SAC305, past臋 NC273LT Sn42/Bi57/Ag1, drut z rdzeniem topnikowym SAC305 oraz lity Sn42/Bi57/Ag1 w po艂膮czeniu z topnikiem NC280 (dla komponent贸w PTH) lub NC217 (dla komponent贸w SMT).

Aby oceni膰 proces czyszczenia, wzi臋to pod uwag臋 trzy r贸偶ne chemikalia czyszcz膮ce. Dwa z nich by艂y fluorowanymi 艣rodkami czyszcz膮cymi, oznaczonymi jako 艣rodki czyszcz膮ce X i Y, podczas gdy trzeci by艂 niefluorowanym 艣rodkiem czyszcz膮cym o nazwie 艣rodek czyszcz膮cy Z.

Uk艂ad eksperymentalny i procedura

Na etapie monta偶u i testowania dla ka偶dego badanego 艣rodka czyszcz膮cego utworzono kupony testowe (PCB016). Proces monta偶u obejmowa艂 wiele etap贸w. Kupony A i B zosta艂y ponownie zalane lutem LT i przerobione przy u偶yciu drutu LT i zewn臋trznego topnika. Kupon C zosta艂 poddany lutowaniu rozp艂ywowemu lutem LT i przer贸bce przy u偶yciu drutu SAC305 z rdzeniem topnikowym. Kupon D zosta艂 poddany zar贸wno lutowaniu rozp艂ywowemu, jak i przer贸bce przy u偶yciu drutu SAC305. Wreszcie, kupon E zosta艂 ponownie zalany lutem LT i nie zosta艂 poddany 偶adnej przer贸bce. Pocz膮tkowy krok w tej fazie obejmowa艂 wykonanie zdj臋膰 "przed" wszystkich komponent贸w.

Kolejna procedura czyszczenia stanowiskowego obejmowa艂a zastosowanie rozpuszczalnika czyszcz膮cego za pomoc膮 narz臋dzia dozuj膮cego. Proces obejmowa艂 cykl szorowania na mokro i na sucho, sk艂adaj膮cy si臋 z 20-sekundowego szorowania na mokro, 20-sekundowego szorowania i 30-60-sekundowego okresu suszenia. Czysto艣膰 kupon贸w zosta艂a nast臋pnie dok艂adnie przeanalizowana pod mikroskopem, po czym wykonano zdj臋cia "po".

Wyniki

Po dok艂adnych eksperymentach 艣rodek czyszcz膮cy X okaza艂 si臋 najskuteczniejszym 艣rodkiem czyszcz膮cym dla rozwa偶anych pr贸bek. Skuteczno艣膰 czyszczenia zosta艂a dodatkowo oceniona poprzez zbadanie konkretnych kupon贸w testowych. Kupony testowe B, C i E wykaza艂y najbardziej zadowalaj膮ce wyniki czyszczenia 艣rodkiem czyszcz膮cym X, co oznacza pomy艣lne usuni臋cie pozosta艂o艣ci odpowiednio z LT+LT, LT+SAC i LT bez przer贸bek (patrz rysunek 1). Jednak kupon testowy A (LT+LT) wykazywa艂 niewielkie pozosta艂o艣ci w niekt贸rych obszarach, w przeciwie艅stwie do jego bli藕niaka, kuponu testowego B. Kupon testowy D (SAC+SAC) wykazywa艂 kilka obszar贸w zauwa偶alnych pozosta艂o艣ci po czyszczeniu, jak pokazano na rysunkach 2 i 3.


Rysunek 1.
 Elementy na kuponie testowym C przed (po lewej) i po (po prawej) czyszczeniu 艣rodkiem czyszcz膮cym X

 
Rysunek 2. Kupon testowy A przed (po lewej) i po (po prawej) czyszczeniu 艣rodkiem Cleaner X

 
Rysunek 3. Kupon testowy D przed (po lewej) i po (po prawej) czyszczeniu 艣rodkiem czyszcz膮cym X 

Wnioski

Badanie wykaza艂o, 偶e cho膰 proces czyszczenia przy u偶yciu 艣rodka czyszcz膮cego X by艂 skuteczny w przypadku wi臋kszo艣ci pr贸bek testowych, wyst臋powa艂a znaczna zmienno艣膰 w usuwaniu pozosta艂o艣ci z r贸偶nych pr贸bek. Badanie podkre艣la znaczenie wyboru odpowiedniej chemii czyszcz膮cej i rygorystycznego przestrzegania procedury czyszczenia w celu zapewnienia skutecznego usuwania pozosta艂o艣ci.


Rozwa偶ania i zmienne dotycz膮ce wzrostu IMC w technikach lutowania r臋cznego

Wzrost zwi膮zk贸w mi臋dzymetalicznych (IMC) jest kluczowym czynnikiem w ocenie niezawodno艣ci po艂膮czenia lutowanego. Wst臋pne badania wykaza艂y por贸wnywalne wyniki mi臋dzy r贸偶nymi kombinacjami lutowania pod wzgl臋dem test贸w 艣cinania i grubo艣ci IMC. Jednak tempo wzrostu IMC i znaczenie czasu przebywania w tej formacji s膮 nadal przedmiotem intensywnych bada艅. Odkrycie dynamiki wzrostu IMC w kontek艣cie lutu LT mo偶e zapewni膰 wi臋ksz膮 jasno艣膰 co do d艂ugoterminowej 偶ywotno艣ci lutu.

Wp艂yw zmienno艣ci lutowania r臋cznego na IMC i inne cechy

Badanie to zosta艂o zainicjowane w celu odpowiedzi na drugie pytanie wynikaj膮ce z pierwotnego dokumentu dotycz膮cego niskotemperaturowej obr贸bki.[7] Metcal, firma specjalizuj膮ca si臋 w produkcji sprz臋tu do lutowania r臋cznego, zbada艂a wp艂yw temperatury grotu i czasu kontaktu na tworzenie si臋 zwi膮zk贸w mi臋dzymetalicznych (IMC) i innych cech podczas u偶ywania lutu niskotemperaturowego (LTS).

U偶yte materia艂y

W badaniu wykorzystano stop Sn42/Bi57/Ag1 zar贸wno do lutowania rozp艂ywowego, jak i ponownego, a wraz z drutem zastosowano topnik AIM NC280. Lutowane komponenty sk艂ada艂y si臋 z pi臋ciu element贸w z platerowanymi otworami przelotowymi (PTH), w tym trzech rezystor贸w i dw贸ch kondensator贸w, na jednym modelu p艂ytki drukowanej. Lutowanie r臋czne wykonano za pomoc膮 lutownicy CVC-6CH0025S z grotem o 艣rednicy 2,5 mm.

Uk艂ad eksperymentalny i procedura

W tym eksperymencie zmieniono warunki lutowania, obejmuj膮ce dwie r贸偶ne temperatury grotu, a mianowicie 285掳C i 343掳C, z odpowiednimi korektami czas贸w kontaktu. W szczeg贸lno艣ci, dla 285掳C, czasy kontaktu zosta艂y ustawione na 3s, 4s (linia bazowa), 5s i 6s. Tymczasem w temperaturze 343掳C czasy kontaktu wynosi艂y 2 s (warto艣膰 wyj艣ciowa), 3 s, 4 s i 5 s.

Parametry oceny koncentrowa艂y si臋 na kompleksowej analizie r贸偶nych aspekt贸w, w tym po艂膮cze艅 lutowanych, charakterystyki pozosta艂o艣ci, w艂a艣ciwo艣ci zwil偶aj膮cych, korozji, kszta艂tu po艂膮czenia lutowanego, potwierdzenia wype艂nienia beczki, grubo艣ci IMC i obecno艣ci pustek.

Wyniki

Podczas badania po艂膮cze艅 lutowanych zaobserwowano, 偶e niekt贸re po艂膮czenia wykazywa艂y k膮t styku przekraczaj膮cy 90 掳 w temperaturze 285 掳 C, co by艂o szczeg贸lnie widoczne przy 3-sekundowym czasie kontaktu. I odwrotnie, w temperaturze 343掳C niekt贸re po艂膮czenia wykazywa艂y nadmiar lutu na g贸rnej stronie, jak pokazano na rysunku 4.


Rysunek 4.
 K膮t zwil偶ania styku kondensatora po przer贸bce w temperaturze 285掳C, czas zwil偶ania 3 sekundy

Je艣li chodzi o pozosta艂o艣ci, kolor ciemnia艂 w korelacji z czasem kontaktu dla obu temperatur ko艅c贸wki, jak pokazano na rysunku 5.


Rysunek 5.
 Spodnia pozosta艂o艣膰 przerobionych komponent贸w w 343掳C

W艂a艣ciwo艣ci zwil偶aj膮ce lutu by艂y godne uwagi, prezentuj膮c b艂yszcz膮cy, g艂adki wygl膮d i zapewniaj膮c dobre pokrycie powierzchni pad贸w w wi臋kszo艣ci po艂膮cze艅.

W analizowanych PCB nie wykryto 偶adnych przypadk贸w korozji.

Warunki temperaturowe mia艂y wp艂yw na kszta艂t po艂膮cze艅 lutowanych. Komponenty poddane dzia艂aniu temperatury 343掳C tworzy艂y lepsze po艂膮czenia lutowane przy r贸偶nych czasach kontaktu w por贸wnaniu do tych w temperaturze 285掳C. Wszystkie beczki, z wyj膮tkiem rezystora z 3 i 4 sekundami czasu kontaktu w temperaturze 285掳C, zosta艂y wype艂nione do 100%.

Badanie grubo艣ci IMC wykaza艂o, 偶e w temperaturze 343掳C IMC PCB/lut by艂o wy偶sze w por贸wnaniu do IMC Pin/lut. Grubo艣膰 IMC by艂a wi臋ksza dla komponent贸w z 3 i 4 sekundami czasu kontaktu ni偶 dla tych z 2 i 5 sekundami. W temperaturze 285掳C, IMC pin贸w/lut贸w by艂a wy偶sza ni偶 IMC PCB/lut贸w, szczeg贸lnie w przypadku rezystor贸w o czasie kontaktu 6 i 5 sekund. Kondensatory w temperaturze 285掳C nie wykazywa艂y mierzalnej IMC pin/lut, co sugeruje, 偶e by艂a ona mniejsza ni偶 1 碌m. Szczeg贸艂owe informacje mo偶na znale藕膰 na Rysunku 6, w Tabeli 1 i Tabeli 2.


Rysunek 6.
 Grubo艣膰 IMC po ponownej obr贸bce styku rezystora w temperaturze 343掳C, czas kontaktu 4 sekundy

Tabela 1. 艢rednia grubo艣膰 IMC 343掳C 

Tabela 2. 艢rednia grubo艣膰 IMC 285掳C 

Wreszcie, obecno艣膰 pustych przestrzeni by艂a powszechn膮 obserwacj膮, przy czym ponad 80% szpilek wykazywa艂o puste przestrzenie dla obu temperatur i r贸偶nych czas贸w kontaktu.

Wnioski

Wyniki wskazuj膮, 偶e r贸偶ne temperatury i r贸偶ne czasy kontaktu wp艂ywaj膮 na jako艣膰 po艂膮czenia lutowanego i tworzenie IMC. Na pytanie, czy u偶ycie lutu LT w przer贸bce mo偶e wyd艂u偶y膰 偶ywotno艣膰 grotu lub zaoszcz臋dzi膰 energi臋, odpowied藕 wydaje si臋 przecz膮ca. Og贸lnie rzecz bior膮c, wy偶sza temperatura, 343掳C, przynios艂a najlepsze wyniki, a 3-4 sekundy to idealny czas kontaktu.

Dalsze rozwa偶ania na temat rozwoju IMC

R贸偶ne podej艣cia do przer贸bek, takie jak LT+LT, LT+SAC i SAC+SAC, mog膮 w unikalny spos贸b wp艂ywa膰 na powstawanie IMC. Poniewa偶 producenci rozwa偶aj膮 zastosowanie lutu LT do przer贸bek, konieczne jest zrozumienie tych subtelnych r贸偶nic i ich potencjalnych implikacji. Wiele ostatnich bada艅 dotyczy艂o wzrostu IMC, a tak偶e migracji bizmutu w BGA, por贸wnuj膮c efekty LT+LT, LT+SAC i SAC+SAC.[8] Jednak wyniki poszczeg贸lnych bada艅 nie wykazuj膮 jednoznacznego trendu. Istniej膮 r贸wnie偶 dowody na to, 偶e rampa temperaturowa, szybko艣膰 ch艂odzenia i czas przebywania mog膮 znacz膮co wp艂ywa膰 na integralno艣膰 po艂膮czenia, je艣li chodzi o lutowie niskotemperaturowe, niezale偶nie od tego, czy s膮, czy nie s膮 cz臋艣ci膮 po艂膮czenia hybrydowego, jak wspomniano wcze艣niej. Wydaje si臋 to wskazywa膰 na mo偶liwo艣膰 dalszych r贸偶nic w wynikach lutowania r臋cznego, w zale偶no艣ci od ustawie艅 sprz臋tu, a tak偶e do艣wiadczenia operatora.


Przedstawienie argument贸w przemawiaj膮cych za lutowaniem LT w przer贸bkach

Analizuj膮c potencjalne korzy艣ci p艂yn膮ce z zastosowania lut贸w niskotemperaturowych (LT) w procesach przer贸bek, nale偶y wzi膮膰 pod uwag臋 kilka kluczowych czynnik贸w. Nasze badania dostarczy艂y wgl膮du w ka偶dy z tych aspekt贸w, kszta艂tuj膮c nasze zrozumienie praktyczno艣ci i skuteczno艣ci lutu LT w scenariuszach przer贸bek.

Oszcz臋dno艣膰 koszt贸w materia艂贸w lutowniczych

Wbrew oczekiwaniom dotycz膮cym op艂acalno艣ci, drut lutowniczy LT jest znacznie dro偶szy ni偶 SAC305. Wynika to z faktu, 偶e kluczowy sk艂adnik lutu LT, bizmut, nie jest bardzo plastyczny, co sprawia, 偶e produkcja drutu lutowniczego LT jest z natury trudniejsza. Ten wy偶szy koszt podwa偶a jedn膮 z potencjalnych zalet stosowania lutu LT w procesach przer贸bek, czyni膮c go mniej atrakcyjn膮 opcj膮 z finansowego punktu widzenia.

艁atwo艣膰 u偶ytkowania

艁atwo艣膰 u偶ycia to kolejny obszar, w kt贸rym lut LT niekoniecznie oferuje korzy艣ci. Wym贸g stosowania drutu bezrdzeniowego i zewn臋trznego topnika komplikuje proces przer贸bki. Dodatkowo wymaga od operatora wy偶szego poziomu wiedzy i precyzji. Czynniki te przyczyniaj膮 si臋 do trudniejszego i bardziej skomplikowanego procesu przer贸bki.

Oszcz臋dno艣膰 energii

Podczas gdy lut LT topi si臋 w ni偶szych temperaturach, co sugeruje potencjalne oszcz臋dno艣ci energii, nasze wyniki wskazuj膮, 偶e integralno艣膰 po艂膮czenia i tworzenie IMC jest lepsze, gdy u偶ywana jest wy偶sza temperatura grota i umiarkowany czas kontaktu. Oznacza艂oby to, 偶e nie ma mo偶liwo艣ci uzyskania oszcz臋dno艣ci energii podczas przer贸bek bez uszczerbku dla integralno艣ci pracy.

Tip Life

Chocia偶 istnieje teoretyczna mo偶liwo艣膰 wyd艂u偶enia 偶ywotno艣ci grotu ze wzgl臋du na ni偶sze temperatury pracy, nasze badania ponownie sugeruj膮, 偶e nie zostanie to potwierdzone ze wzgl臋du na lepsze wyniki podczas lutowania w wy偶szej temperaturze.

Integralno艣膰 po艂膮czenia

Nasze wst臋pne badanie por贸wna艂o wydajno艣膰 konfiguracji SAC+SAC, LT+SAC i LT+LT pod wzgl臋dem test贸w 艣cinania i grubo艣ci IMC. Wyniki wskaza艂y, 偶e wszystkie te kombinacje by艂y por贸wnywalne pod wzgl臋dem wydajno艣ci. Pozostaj膮 jednak pytania dotycz膮ce tempa wzrostu IMC i czasu przebywania, kt贸re wymagaj膮 dalszych bada艅, aby w pe艂ni zrozumie膰 wp艂yw na integralno艣膰 po艂膮czenia.

Wymagania dotycz膮ce temperatury podzespo艂贸w/pod艂o偶a

Wa偶n膮 kwesti膮 przy stosowaniu lutu LT jest jego wp艂yw na komponent i pod艂o偶e. Je艣li przyj臋cie lutu LT w procesach rozp艂ywowych prowadzi do stosowania ta艅szych pod艂o偶y i komponent贸w, mog膮 one mie膰 okre艣lon膮 wra偶liwo艣膰 na temperatur臋 podczas przer贸bki, kt贸r膮 nale偶y starannie zarz膮dza膰. Ten aspekt u偶ycia lutu LT wymaga szczeg贸艂owego zrozumienia zastosowanych materia艂贸w i ich odpowiednich tolerancji temperaturowych.

Mo偶liwo艣膰 czyszczenia pozosta艂o艣ci

Stopy lutownicze zawieraj膮ce bizmut mog膮 pozostawia膰 resztki tlenku bizmutu, zar贸wno po rozp艂ywie, jak i po przer贸bce. W rzeczywisto艣ci wiele z tych pozosta艂o艣ci zaobserwowano na przerobionych komponentach w badaniu zmiennej lutownicy. Ustalono jednak, 偶e istnieje roztw贸r czyszcz膮cy i proces, kt贸ry praktycznie eliminuje te pozosta艂o艣ci.

Wnioski

W oparciu o skumulowane spostrze偶enia z naszych bada艅 i analiz, argumenty przemawiaj膮ce za stosowaniem lut贸w LT w procesach przer贸bek nie znajduj膮 silnego poparcia. Chocia偶 istniej膮 teoretyczne korzy艣ci, praktyczne realia i ustalenia z naszych bada艅 sugeruj膮, 偶e korzy艣ci s膮 albo minimalne, albo negowane przez inne wyzwania. Producenci musz膮 dok艂adnie rozwa偶y膰 te czynniki, rozwa偶aj膮c przyj臋cie lutu LT do cel贸w przer贸bek.


Podstawowe zastosowania lut贸w niskotemperaturowych

Na koniec chcieliby艣my ponownie oceni膰 szerszy zakres zastosowa艅 lut贸w niskotemperaturowych (LT), bior膮c pod uwag臋 zar贸wno ich nieod艂膮czne ograniczenia, jak i obszary, w kt贸rych s膮 obiecuj膮ce.

Przypomnijmy, 偶e luty LT wykazuj膮 ni偶sz膮 niezawodno艣膰 w scenariuszach zwi膮zanych z napr臋偶eniami mechanicznymi, takimi jak wstrz膮sy spowodowane upadkiem, gdzie krucho艣膰 mo偶e by膰 znacz膮c膮 przeszkod膮. Mog膮 one jednak dobrze nadawa膰 si臋 do elektroniki eksploatacyjnej, gdzie wysoka trwa艂o艣膰 jest mniej krytyczna, a utrzymanie niskich koszt贸w produkcji ma zasadnicze znaczenie dla utrzymania rentowno艣ci.

Kontrolowane 艣rodowiska aplikacji

W przypadkach, w kt贸rych nie oczekuje si臋, 偶e urz膮dzenie b臋dzie poddawane znacznym obci膮偶eniom mechanicznym, na przyk艂ad w stacjonarnych lub kontrolowanych 艣rodowiskach, krucho艣膰 lutu cynowo-bizmutowego mo偶e nie by膰 g艂贸wnym problemem.

Po艂膮czenie z innymi stopami

Czasami lut cynowo-bizmutowy mo偶e by膰 艂膮czony z innymi stopami w celu z艂agodzenia jego krucho艣ci. Na przyk艂ad dodanie srebra (Ag) mo偶e poprawi膰 jego wytrzyma艂o艣膰 mechaniczn膮, czyni膮c go bardziej odpowiednim do zastosowa艅 wymagaj膮cych pewnego poziomu odporno艣ci na wstrz膮sy.

Komponenty nadmiarowe lub niekrytyczne

W niekt贸rych projektach, szczeg贸lnie w bran偶y motoryzacyjnej i lotniczej, lut cynowo-bizmutowy mo偶e by膰 stosowany do komponent贸w, kt贸re s膮 nadmiarowe lub nie s膮 krytyczne dla podstawowej funkcji systemu, zmniejszaj膮c w ten spos贸b ryzyko zwi膮zane z awari膮 z艂膮cza lutowniczego.

Elastyczna elektronika

W elastycznej elektronice cz臋sto k艂adzie si臋 nacisk na elastyczno艣膰, a nie na odporno艣膰 na wstrz膮sy mechaniczne. W tym przypadku niska temperatura lutu cynowo-bizmutowego jest korzystna dla materia艂贸w wra偶liwych na temperatur臋 stosowanych w tych urz膮dzeniach. Same urz膮dzenia mog膮 by膰 zaprojektowane tak, aby do艣wiadcza膰 minimalnych uderze艅 lub wstrz膮s贸w.

U偶ycie w chronionych komponentach

Zar贸wno w zastosowaniach motoryzacyjnych, jak i lotniczych, komponenty lutowane cyn膮-bizmutem mog膮 by膰 umieszczane w obszarach chronionych mechanicznie, w kt贸rych prawdopodobie艅stwo wyst膮pienia wstrz膮s贸w spowodowanych upadkiem jest zminimalizowane.

Aplikacja selektywna

Lut cynowo-bizmutowy mo偶e by膰 stosowany selektywnie w po艂膮czeniu z innymi rodzajami lut贸w w jednym zespole, stosowanym tylko w okre艣lonych obszarach, w kt贸rych jego niska temperatura topnienia jest korzystna, a jego krucho艣膰 nie jest znacz膮c膮 wad膮.

Zaawansowane techniki pakowania

Niekt贸re nowoczesne techniki pakowania elektronicznego mog膮 z艂agodzi膰 skutki krucho艣ci lutowia, takie jak stosowanie materia艂贸w wype艂niaj膮cych lub stosowanie specjalnych projekt贸w PCB, kt贸re zmniejszaj膮 napr臋偶enia na po艂膮czeniach lutowanych.

Cz臋艣ci nieruchome

W przemy艣le motoryzacyjnym i lotniczym mo偶e by膰 stosowany do nieporuszaj膮cych si臋 cz臋艣ci lub w zastosowaniach, w kt贸rych po艂膮czenia lutowane nie s膮 poddawane cz臋stym lub silnym napr臋偶eniom mechanicznym.

Spotlight na temat elektroniki u偶ytkowej

Segment elektroniki u偶ytkowej jest szczeg贸lnie intryguj膮cy, je艣li chodzi o zastosowanie lut贸w LT. S膮 to produkty cz臋sto projektowane z my艣l膮 o kr贸tkim cyklu 偶ycia, od akcesori贸w mobilnych po niedrogie s艂uchawki douszne. Nale偶y pami臋ta膰, 偶e podczas gdy urz膮dzenia jednorazowego u偶ytku wykorzystuj膮ce lut LT mog膮 negowa膰 pozytywne korzy艣ci dla 艣rodowiska wynikaj膮ce z zastosowania lutu LT, przyczyniaj膮c si臋 do nadmiaru odpad贸w, na okre艣lonych rynkach, na kt贸rych urz膮dzenia elektroniczne musz膮 by膰 jednorazowe (np. w niekt贸rych zastosowaniach medycznych lub bezpiecze艅stwa), lut LT mo偶e pom贸c w utrzymaniu op艂acalno艣ci.

Przysz艂e kierunki i zalecenia

Eksploracja lutowia niskotemperaturowego (LT), jego zastosowanie w przer贸bkach i jego szersze implikacje dla przemys艂u elektronicznego niew膮tpliwie przynios艂y bogactwo wiedzy. Jednak, jak w przypadku ka偶dego przedsi臋wzi臋cia naukowego, podr贸偶 ta odkry艂a tyle samo pyta艅, na ile odpowiedzia艂a. Opieraj膮c si臋 na zebranych do tej pory spostrze偶eniach, wy艂ania si臋 kilka przysz艂ych kierunk贸w i zalece艅.

Rozw贸j i standaryzacja stop贸w

W badaniu iNEMI respondenci wskazali, 偶e chcieliby, aby istnia艂 standardowy stop w LT, zanim b臋d膮 chcieli zainwestowa膰 w zmian臋.[9] Jak wspomniano powy偶ej, podczas gdy eutektyczna cyna z bizmutem jest "podstawowym" modelem, do kt贸rego cz臋sto por贸wnuje si臋 bardziej wyrafinowane stopy LT lub modyfikuje je w celu rozwi膮zania istniej膮cych problem贸w, wci膮偶 trwa wiele eksperyment贸w z dodawaniem domieszek i innych pierwiastk贸w.

Poprawa niezawodno艣ci niskotemperaturowych lut贸w cynowo-bizmutowych (Sn-Bi) cz臋sto wi膮偶e si臋 z dodaniem do stopu innych pierwiastk贸w. Dodatki te maj膮 na celu popraw臋 pewnych w艂a艣ciwo艣ci, takich jak wytrzyma艂o艣膰 mechaniczna, odporno艣膰 na cykle termiczne i zmniejszenie krucho艣ci. Niekt贸re z najbardziej skutecznych pierwiastk贸w do tego celu obejmuj膮:

  • Srebro (Ag): Dodawanie srebra do stop贸w Sn-Bi jest jedn膮 z najpopularniejszych metod poprawy ich wytrzyma艂o艣ci mechanicznej i odporno艣ci na zm臋czenie cieplne. Srebro mo偶e zwi臋kszy膰 og贸ln膮 wytrzyma艂o艣膰 po艂膮czenia lutowanego, czyni膮c je mniej podatnym na uszkodzenia pod wp艂ywem napr臋偶e艅 mechanicznych lub cykli termicznych.
  • Mied藕 (Cu): Mied藕 jest kolejnym pierwiastkiem cz臋sto dodawanym do lut贸w Sn-Bi. Mo偶e ona poprawi膰 charakterystyk臋 zwil偶ania lutu i poprawi膰 jego w艂a艣ciwo艣ci mechaniczne. Mied藕 pomaga r贸wnie偶 w zmniejszeniu tempa wzrostu IMC (Intermetallic Compound), co mo偶e by膰 korzystne dla d艂ugoterminowej niezawodno艣ci.
  • Nikiel (Ni): Nikiel jest stosowany w celu poprawy w艂a艣ciwo艣ci mechanicznych lutu i stabilizacji warstwy mi臋dzymetalicznej, zmniejszaj膮c wzrost kruchych faz. Mo偶e to by膰 szczeg贸lnie korzystne w zastosowaniach, w kt贸rych po艂膮czenia lutowane s膮 poddawane napr臋偶eniom mechanicznym.
  • Antymon (Sb): Antymon mo偶e by膰 dodawany do lut贸w Sn-Bi w celu poprawy ich w艂a艣ciwo艣ci termicznych i mechanicznych. Pomaga on w udoskonaleniu mikrostruktury lutu, prowadz膮c do lepszej wydajno艣ci podczas cykli termicznych i napr臋偶e艅.
  • Ind (In): Ind mo偶e zwi臋kszy膰 plastyczno艣膰 lutu, czyni膮c go mniej kruchym. Mo偶e to by膰 szczeg贸lnie przydatne w zastosowaniach, w kt贸rych wa偶na jest elastyczno艣膰 i odporno艣膰 na zm臋czenie cieplne.

Ka偶dy z tych element贸w w r贸偶ny spos贸b przyczynia si臋 do og贸lnej wydajno艣ci lutu. Wyb贸r elementu (element贸w) do dodania zale偶y od konkretnych wymaga艅 aplikacji, takich jak 艣rodowisko pracy, rodzaje napr臋偶e艅, kt贸re napotkaj膮 po艂膮czenia lutowane, oraz po偶膮dana r贸wnowaga mi臋dzy kosztami a wydajno艣ci膮. Proporcje tych dodatk贸w musz膮 by膰 dok艂adnie kontrolowane, poniewa偶 nadmierne ilo艣ci mog膮 prowadzi膰 do innych problem贸w, takich jak zwi臋kszona krucho艣膰 lub zmniejszona zdolno艣膰 zwil偶ania.

Okre艣lanie uzasadnienia biznesowego dla lutowania niskotemperaturowego dzi艣 i w przysz艂o艣ci

Okre艣lenie uzasadnienia biznesowego dla lut贸w niskotemperaturowych (LT) obejmuje ocen臋 zar贸wno natychmiastowych, jak i d艂ugoterminowych czynnik贸w w produkcji elektroniki. Kluczowe kwestie obejmuj膮 por贸wnanie koszt贸w lut贸w LT i tradycyjnych, uwzgl臋dnienie potencjalnych d艂ugoterminowych oszcz臋dno艣ci wynikaj膮cych ze zmniejszonego zu偶ycia energii i mo偶liwo艣ci stosowania ta艅szych komponent贸w. Kompatybilno艣膰 lutu LT z istniej膮cymi liniami produkcyjnymi, wraz z wymaganiami dotycz膮cymi modyfikacji sprz臋tu, stanowi krytyczn膮 cz臋艣膰 tej oceny.

Nale偶y wzi膮膰 pod uwag臋 wymagania specyficzne dla produktu, szczeg贸lnie w przypadku komponent贸w wra偶liwych na temperatur臋, a tak偶e niezawodno艣膰 i wydajno艣膰 lut贸w LT w r贸偶nych warunkach. Ponadto istotn膮 rol臋 w tej ocenie odgrywaj膮 korzy艣ci 艣rodowiskowe i zgodno艣膰 z przepisami, dostosowane do globalnych trend贸w zr贸wnowa偶onego rozwoju.

Wa偶ne s膮 r贸wnie偶 perspektywy na przysz艂o艣膰, takie jak trend w kierunku miniaturyzacji urz膮dze艅 elektronicznych i zmiany rynkowe w kierunku bardziej przyjaznych dla 艣rodowiska proces贸w produkcyjnych. Biznesowe uzasadnienie dla lut贸w LT zale偶y zatem od r贸wnowagi mi臋dzy natychmiastowymi potrzebami operacyjnymi, d艂ugoterminowymi korzy艣ciami i dostosowaniem do zmieniaj膮cych si臋 trend贸w bran偶owych i wymaga艅 konsument贸w.

Znaczenie wsp贸艂pracy bran偶owej

Droga naprz贸d wymaga wsp贸lnych wysi艂k贸w w zakresie wsp贸lnych bada艅, 艂膮cz膮cych wiedz臋 specjalistyczn膮 ze 艣rodowisk akademickich, produkcji i technologii lutowania w celu zbadania takich obszar贸w, jak zu偶ycie energii, interakcje materia艂owe i inne. Ustanowienie otwartych platform wymiany wiedzy, w po艂膮czeniu ze wzmocnionymi wi臋zami mi臋dzy przemys艂em a 艣rodowiskiem akademickim, b臋dzie mia艂o kluczowe znaczenie dla rozwi膮zania nierozwi膮zanych kwestii i wspierania innowacji. Takie wsp贸lne podej艣cie obiecuje uwolni膰 pe艂ny potencja艂 lutowania LT w produkcji elektroniki, przekszta艂caj膮c wyzwania w kamienie milowe dla post臋pu i wydajno艣ci w tej rozwijaj膮cej si臋 dziedzinie.

WNIOSKI  

Nasze kompleksowe badanie lutowia niskotemperaturowego (LT) w monta偶u elektroniki i przer贸bkach podkre艣li艂o jego z艂o偶on膮 rol臋 w nowoczesnej produkcji. Analiza por贸wnawcza r贸偶nych strategii przer贸bek ujawni艂a zniuansowane r贸偶nice pod wzgl臋dem jako艣ci po艂膮cze艅, wzrostu IMC i czasu procesu, rzucaj膮c 艣wiat艂o na najlepsze praktyki dostosowane do konkretnych cel贸w produkcyjnych. Podsumowuj膮c, lepsze przerobione po艂膮czenia powsta艂y przy u偶yciu wy偶szych temperatur ko艅c贸wki 偶elazka i umiarkowanych czas贸w kontaktu. Ponadto byli艣my w stanie potwierdzi膰, 偶e pozosta艂o艣ci tlenku bizmutu powsta艂e w wyniku przer贸bki lub ponownego rozp艂ywu lut贸w zawieraj膮cych bizmut w niskiej temperaturze mo偶na oczy艣ci膰, je艣li stanowi膮 one problem.

Ostatecznie doszli艣my do wniosku, 偶e podczas gdy lut LT ma wiele zalet w lutowaniu rozp艂ywowym, nie ma zbyt wielu argument贸w przemawiaj膮cych za u偶yciem lutu LT do przer贸bek ze wzgl臋du na z艂o偶ono艣膰, koszty i wzgl臋dny brak jakichkolwiek korzy艣ci w por贸wnaniu z przer贸bkami przy u偶yciu SAC. Co wi臋cej, dop贸ki dalsze odkrycia nie przynios膮 bardziej niezawodnych stop贸w LT, widzimy wady zwi膮zane z krucho艣ci膮 i awariami spowodowanymi wstrz膮sami, kt贸re nale偶y zr贸wnowa偶y膰 z oszcz臋dno艣ci膮 energii i koszt贸w lutowania LT, wskazuj膮c, 偶e elektronika eksploatacyjna jest prawdopodobnie najlepszym obecnie przypadkiem u偶ycia.

Patrz膮c w przysz艂o艣膰, rozw贸j i szersze zastosowanie lut贸w LT b臋dzie zale偶a艂o od sprostania wyzwaniom poprzez wsp贸lne innowacje, ci膮g艂e badania i dostosowanie do nowych wymaga艅 bran偶owych. Podr贸偶 przez zawi艂o艣ci lutu LT sugeruje 艣cie偶k臋 ci膮g艂ego uczenia si臋 i adaptacji, gdzie wsp贸艂praca bran偶owa mo偶e wykorzysta膰 jego potencja艂, aby sprosta膰 rosn膮cym wymaganiom produkcji elektroniki.

ODNIESIENIA
[1] Tang, K. K., Aspandiar, R. F., Mokler, S., Chen, O., & Jiang, A. (2015). SMT Soldering with Low Temperature Solder Paste. Intel Corporation.
[2] Mei, Zequn & Hua, Fay & Glazer, J. & Chung, C. Key. (1997). Lutowanie w niskiej temperaturze. Circuit World. 10. 463 - 476. 10.1109/IEMT.1997.626966.
[3] Intel. (2017). Wprowadzenie do lutowania niskotemperaturowego (LTS). Intel Corporation. Copyright 2017.
[4] Coyle, R., Anselm, M., Hadian, F., Kempaiah, S., Raj, A., Popowich, R., Clark, L., Fullerton, J., & Johnson, C. (2021, 1 listopada). The Effect of Peak Reflow Temperature on Thermal Cycling Performance and Failure Mode of Hybrid Low Temperature Solder Joints. SMTA International 2021, 1 listopada 2021 r.
[5] Du拧ek, K. & Bu拧ek, David & Vesel媒, Petr & Pra啪anov谩, Anna & Pla膷ek, Martin & Re, Julia. (2022). Zrozumienie wp艂ywu profilu rozp艂ywu na w艂a艣ciwo艣ci metalurgiczne lut贸w cynowo-bizmutowych. Metals. 12. 121. 10.3390/met12010121.
[6] Sloan, M., Flanagan, K., Sandy-Smith, B., Allen, M. B. (2018). Reflow Profiling for Next-Generation Solder Alloys. Indium Corporation. Clinton, NY, USA.
[7] O'Neill, T., Fijalkowski, J., Tafoya, C., Xu, Y., Hrcek, S., Lambert, L., Willis, B., Hamasha, S. (Year). Rozwi膮zywanie problem贸w zwi膮zanych z obr贸bk膮 w niskich temperaturach. AIM Solder. Montreal, Quebec, Kanada.
[8] Fu, Haley & Aspandiar, Raiyomand & Chen, Jimmy & Cheng, Shunfeng & Chen, Qin & Coyle, Richard & Feng, Sophia & Hardin, Bill & Krmpotich, Mark & Mokler, Scott & Radhakrishnan, Jagadeesh & Ribas, Morgana & Sandy-Smith, Brook & Tang, Kok & Wu, Greg & Zhang, Anny & Zhen, Wilson. (2018). Projekt iNEMI dotycz膮cy rozwoju procesu niskotemperaturowych past lutowniczych na bazie BISN - Cz臋艣膰 II: Charakterystyka po艂膮cze艅 lutowniczych BGA ze stop贸w mieszanych. 1-17. 10.23919/PanPacific.2018.8318989.
[9] iNEMI. (2019). iNEMI Survey Summary Report: Gotowo艣膰 do lutowania niskotemperaturowego (LTS) do monta偶u p艂ytek drukowanych. Opublikowano w maju 2019 r.

ZATWIERDZONY PRZEZ

Timothy O'Neill, Gayle Towell
AIM Solder
Cranston, Rhode Island, USA

Elizabeth Norwood
MicroCare
New Britain, Connecticut, USA

Hoa Nguyen
Metcal
Cypress, Kalifornia, USA

*PRESENTED AT IPC APEX 2024 

PODZI臉KOWANIA
Autorzy chcieliby podzi臋kowa膰 Yanci Gomez, AIM Solder R&D Technical i Itzayana Lopez, AIM Solder R&D Chemist za pomoc w analizie przekrojowej.

Udost臋pnij ten artyku艂:

Subskrybuj i otrzymuj najnowsze informacje od AIM Solder

AIM Solder jest zgodny z wytycznymi RODO dotycz膮cymi ochrony danych. Przeczytaj nasze polityka prywatno艣ci aby zrozumie膰, w jaki spos贸b gromadzimy, przechowujemy i przetwarzamy dane osobowe u偶ytkownik贸w zgodnie z RODO.聽